Тест по теме "Дифракция света"
тест по физике (11 класс) по теме
11 тестовых заданий по теме «Дифракция света» с вариантами ответов.
Скачать:
| Вложение | Размер |
|---|---|
| test_difraktsiya.doc | 29.5 КБ |
Предварительный просмотр:
1. Условие максимума в дифракционной картине, полученной с помощью решетки, d sin φ = kλ . В этой формуле k должно быть: 1) целым числом 2) четным числом 3) нечетным числом 4) дробным числом
2. На свету СД-диск имеет радужную окраску. Какое физическое явление и почему лежит в основе этого: 1) интерференция света 2) отражение света 3) дифракция света 4) дисперсия?
3. На дифракционную решетку нормально падает пучок света. Какое соотношение соответствует максимуму на экране (d – порядок решетки, а – ширина щели, b – ширина непрозрачного промежутка):
1) d sin φ = ±(2m + 1)λ 2) a sin φ = ± mλ 3) b sin φ = ±mλ 4) d sin φ = ± mλ?
4. На кристаллах не наблюдается дифракция видимого света, потому что
1) длины волн видимого света много больше межплоскостного расстояния кристалла 2) длины волн видимого света много меньше межплоскостного расстояния кристалла 3) кристаллы не могут использоваться в качестве дифракционной решетки
5. Щель освещается белым светом. Цвет центрального максимума при этом 1) белый 2) красный 3) фиолетовый 4) желтый
6. Дифракционная решетка освещается белым светом. Дальше от центра дифракционной картины расположена область максимумов 1) красная 2) фиолетовая 3) желтая 4) зеленая
7. Дифракционная решетка позволяет определить:
1)длину волны 2)частоту волны 3)скорость распространения волны
А. только 1 Б. только 2 В. только 1 и 2 Г. только 2и3
8. При помощи дифракционной решетки с периодом d = 0,02 мм получен первый дифракционный максимум на расстоянии 3,6 см от центрального и на расстоянии L = 1,8 м от решетки. Найдите длину световой волны.
9. Дифракционная решетка имеет 50 штрихов на 1 мм длины. Под каким углом виден максимум второго порядка света с длиной волны 400 нм?
10. Дифракция света – это…
А.огибание волнами препятствий
Б.сложение в пространстве волн
В.разложение бело света на составляющие семь цветов
Г.преломление на границе раздела двух сред
11. Определить оптическую разность хода волн длиной 600 нм, прошедших через дифракционную решётку и образовавших максимум третьего порядка.
А) 0; Б) 6·10 -7 м; В) 12·10 -7 м; Г) 18·10 -7 м.
По теме: методические разработки, презентации и конспекты
Тест по теме «Распространение света»
Тест составлен в программе Ms Excel. Есть возможность выбора ответа. По результатам выполнения теста программа выставляет оценку.
Методическая разработка. Проверочная работа по теме: «Свет. Источники света. Прямолинейное распространение света».
Проверочная работа на 15-20 минут, 8 класс, раздел «Световые явления».
Тест.Отражение света.8 класс.(к учебнику А.В.Перышкина)
Тест.Отражение света.Содержит 2 варианта работы.
Задачи к уроку по теме «Свет и его законы» + тест «Законы преломления и отражения света. Линзы» для 11 класса
Первая часть — задачи даны с ответами, поэтому потребуется, убрав ответы, распечатать условия для раздачи учащимся. Вторая часть — тесты (в количестве 23 вопросов) не требуют дорабтки и готовы к распе.
Тест по физике по теме «Дисперсия света. Интерференция света» 11 класс.
Содержание данного теста можно использовать при повторении темы «Волновые свойства света» и подготовке к ЕГЭ.
Тест «Скорость света. Принцип Гюйгенса. Законы отражения света.»
Компьютерный тест, составлен в программе Mytest. Предназначен для проверки уровня знаний учащихся 11 класса по теме "Скорость света. Принцип Гюйгенса. Законы отражения света." Тест составлен.
Тест «Закон преломления света. Полное отражение.»
Компьютерный тест, составлен в программе Mytest. Предназначен для проверки уровня знаний учащихся 11 класса по теме "Закон преломления света. Полное отражение." Тест составлен по сборнику Фи.
Почему нельзя наблюдать дифракцию видимого света на кристаллах?
Дифракция проявляется тогда, когда характерные размеры препятствия для волны сравнимы с длиной волны. Характерные размеры кристаллической решётки (расстояния между молекулами) сравнимо с длиной волны рентгеновского излучения. Поэтому рентгеновское излучение дифрагирует на кристаллах. А вот световое — нет. И гамма-излучение — тоже нет. И поэтому, кстати, создание зеркала в рентгеновском диапазоне является очень сложной проблемой.
Во если бы предположить, что полет к Луне состоялся. Сейчас в наши дни. Не важно кто. Криков, что этот полет — мистификация, было бы опять выше крыши. Ну есть же умники, которые доказывают что дважды два — пять и что Земля плоская. А в 18 веке была ядерная война, которую никто не заметил. А тут такой материальчик — грех отказываться. Поэтому состоявшийся полет все равно какой стороны лишь ляжет в копилку таких же. Вот сколько воплей про американские марсоходы. Не удивительно, что молодежь ничего не читает и ничем не интересуется: столько бреда говорится и пишется, что самой хочется в своей голове хорошо пропылесосить. А то фильтры засоряются.
А вообще все теории мистификаций и теории заговора основаны на одном принципе: подвергается сомнению крупное и знАчимое событие. И пошло — поехало. Так что для любого фэйка важно высветить лишь часть целого, выпятить и исказить. А все остальное оставить во мраке или под ретушью. На том и стоят.
А вы знаете, что в каждом доме живут маленькие демоны, которые очень любят шалить и каждый по своему.
Среди них есть как раз тот, который любит запутывать наушники, а имя ему Скручиватель.
А это его друзья-демонята:
Крикун.
Носочник.
Подогреватель.
Туалетно-бумаго-трательщик.
Пьюн.
Вато-пупочник.
Парикмахер.
Космология изучает строение и законы развития Вселенной, а космогония — происхождение Вселенной.
Как видите, это связанные вещи. Ведь изучать развитие без знания того, как образовался объект изучения, чрезвычайно трудно. С другой стороны, знание того, как и почему объект развивается, помогает понять, как он образовался.
Бред полный бред. *3370# улутшит качество приема сигнала на 15 процентов, что позволит аккамулятору сесть быстрее примерно на 5-7 процентов.
вообщем вот все коды и их значение:
1.всем известный код *#06# — показывает IMEI код телефона
2.*#0000# — показывает версию прошивки, дату и информацию по диапазону телефона
3.*#2820# — показывает так называемый MAC адрес устройства BlueTooth — должен быть уникальным для всех устройств
4.*#7780# — мягко восстанавливает исходные настройки телефона (предварительно спрашивает разрешения)
5.*#7370# — глубокий ресет телефона с полным восстановлением состояния как на заводе (предварительно спрашивает разрешения)
6.*#62209526# — показывает MAC адрес WLAN адаптера, если он есть. Вариант: *#MAC0WLAN#
7.*#7780# — восстановление последних рабочих настроек телефона. ?
8.*#92702689# — вход в гарантийное меню (на N-серии не работает). Вариант: *#war0anty# или *#war_anty#
9.#pw+(MASTERCODE)+(y)# Для проверки статуса локов.
10.*#73# — сбросить таймер и результаты игр (Game Score)
11.*#67705646# — должно очистить LCD дисплей, оператор лого.
12.*#7328748263373738# — должно установить защитный код (security code) к заводскому значению: 12345
13.12345 — защитный код (security code) по умолчанию.
14.*#3925538# — очищает бумажник и код бумажника (если он есть в телефоне).
*#06# — показывает IMEI-код телефона Nokia 6230 (International Mobile Equipment Identity). Этот номер должен совпадать с номером на коробке.
*#0000# — определение версии прошивки Nokia 6230 (SW)
*#9999# — попробуйте этот код, если предыдущий не работает
*3370# — включение EFR (улучшенное качество речи, но при этом уменьшается срок работы аккумулятора)
<h1>3370# — отключение EFR</h1>
*4720# — включение HFR (ухудшает качество приема, но повышает срок работы от аккумулятора)
<h1>4720# — отключение HFR</h1>
*#war0anty# (*#92702689#) — служебная информация.
- Серийный номер Вашего телефона Nokia
- Дату изготовления Вашего телефона Nokia
- Дату продажи Вашего телефона Nokia — можно установить только один раз
- Дату последнего ремонта Вашего телефона Nokia (0000 — нет)
- Полный таймер аппарата
Для выхода нужно выключить и включить телефон
*#sim_clock# (*#746025025#) — поддерживает SIM Phase 2 (режим сна) или нет
*#7780# — восстанавливает заводские установки (не включает в себя язык, страну и память).
*#7370# — полное форматирование (внимание! Удаляются все пользовательские данные без возможности восстановления).
И вообще в природе чудес не бывает , если что то где то появилось, то что то где то отнялось. Это закон природы и не выдумывайте)) запасных батареек. Батарее всегда в резерве бывает на телефоне, для возможности сохранения информации,процессор оставит заряда столько чтобы потом не краснеть за потеряную инфу))
Конечно, может, как может загореться любой электроприбор. Хотя скажу честно, за почти двадцать лет работы электриком такого не встречал и не слышал о подобных случаях. Но — может, разумеется.
По нескольким причинам.
Прежде всего, загореться может вилка, или розетка. Чаще всего из-за постепенного окисления и контактов, возрастающего электрического сопротивления и нагрева.
Затем, провод — чаще всего из-за механических повреждений: перебили, передвигая мебель, уронили что-то тяжелое, пережали дверью.
Наконец, окисляться могут контакты и в самом холодильнике.
И последняя из основных причин: влага, присутствующая в любом холодильнике. Из-за износа, или заводского брака, повреждается изоляция, влага проникает к токонесущим частям — что может вести к короткому замыканию. Или пробою на корпус — тогда грозит не возгорание, а поражение людей током.
Конечно, для защиты от возможных коротких замыканий в электрощитах установлены автоматические выключатели и устройства защитного отключения. Но бывает всякое. Бывает, что и автоматы не срабатывают, что может приводить к возгораниям. Не обязательно самого холодильника — загореться может что-то возле него: шторы, ковры.
Хотя повторю: за время работы электриком в ЖКХ с возгоранием холодильников не сталкивался.
Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Уникальным методом определения структуры является рент-геноструктурный анализ, основанный на дифракции рентгеновского излучения при рассеянии на кристалле вещества. С помощью этого метода можно получить данные о точном пространственном расположении атомов в молекуле исследуемого вещества, о длинах связей между атомами и углах между связями. [17]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения . Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой даны приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и элек-троно графического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [18]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения . Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой глаЪе даны наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтроногра-фического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых-в нашей стране. [19]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения . Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой главе даны наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтроногра-фического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [20]
Особенно отличаются ( в сторону завышения) величины ККМ, определенные дифракцией рентгеновского излучения , в связи с тем, что этот метод фиксирует возникновение пластинчатых мицелл, не реагируя на присутствие в растворе мицелл сфероидального типа. [21]
Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения — поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 — 2 — 102 А. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядочение расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [22]
Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения — поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 — 2 — 102 А. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [23]
Первоначально для выделения аналитической линии использовался лишь кристалл-дифракционный метод 9J, основанный на дифракции рентгеновского излучения на кристалле-анализаторе. Достижения в области радиоизотопных источников, специальных маломощных рентгеновских трубок, спектрометрии рентгеновского излучения позволили разработать бескристальные методы обеспечения спектральной избирательности, отли чающиеся существенной аппаратурной простотой. [24]
Наличие в жидкости пространственного упорядочения молекул подтверждается экспериментальными данными по рассеянию света, дифракции рентгеновского излучения , нейтронов и электронов. Рентгеноструктурные исследования показали, что в жидкостях, состоящих из многоатомных молекул, наблюдается не только упорядоченное расположение молекул, но и известная закономерность во взаимной ориентации частиц. Эта ориентация усиливается для полярных молекул и при формировании водородной связи. Однако, как видно на рис. 21, только в окрестности данной частицы наблюдается закономерное расположение соседних частиц. При удалении от рассматриваемой частицы А на расстояние порядка 10 атомных расстояний закономерное расположение частиц нарушается. [25]
Дифракция света, удовлетворяющая условию (9.2.4), называется брэгговской дифракцией по аналогии с дифракцией рентгеновского излучения в кристаллах. Для того чтобы оценить порядок величины угла в, рассмотрим случай дифракции света с длиной волны X 0 5 мкм на звуковой волне частотой 500 МГц. Условие брэгговской дифракции (9.2.4) найдено в предположении, что периодическое возмущение неподвижно относительно светового пучка. [26]
Соотношение (6.4.18) называют также условием Брэгга, поскольку оно совпадает с аналогичным условием для дифракции рентгеновского излучения в кристаллах. Постоянная ( 3 является составляющей волнового вектора, перпендикулярной соответствующим кристаллическим плоскостям. [27]
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ, РЕНТГЕНОВСКИЙ анализ [ см. структура ] — метод изучения строения веществ по дифракции рентгеновского излучения на атомных решетках; широко примен. [28]
В работе [204] представлены данные о молекулярном движении в кристаллах полиэтилена, полученные методом дифракции рентгеновского излучения . [29]
Русский физик Г. В. Вульф и английский У. Л. Брэгг независимо друг от друга предложили ( 1913) простой метод расчета дифракции рентгеновского излучения в кристаллах. Это отражение, в отличие от обычного, осуществляется лишь при таких условиях падения лучей на кристалл, которые соответствуют интерференционным максимумам для лучей, отраженных от разных плоскостей. [30]
Дифракционная решетка
Явление дифракции на щели используется для создания дифракционных решеток. Дифракционная решетка представляет собой систему параллельных дифракционных щелей равной ширины, лежащих в одной плоскости и разделенных равными по ширине непрозрачными промежутками. В этом случае наблюдается многолучевая интерференция когерентных дифрагированных лучей.
Разности хода лучей, идущих от двух щелей:
Очевидно, прежние минимумы интенсивности сохранятся
Вследствие взаимной интерференции соседних щелей образуются дополнительные минимумы, когда волны из соседних щелей гасят друг друга. Условие появления дополнительных минимумов
где — постоянная решетки (период решетки).
Если выполнено условие
то максимумы будут усиливаться. Это выражение определяет условие главных максимумов. Можно показать, что, если решетка состоит из N щелей, то справедливы следующие условия:
Величина называется порядком спектра. Дополнительные минимумы и максимумы изменяют форму дифракционных спектров так, как показано на рисунке.
Здесь пунктирная линия изображает интенсивность от одной щели, умноженную на . Отметим, что главный максимум располагается против центра линзы. Количество главных максимумов определяется из условия
Дифракционные решетки, используемое в различных областях спектра, различается размерами, формой, материалом поверхности, профилем штрихов и их частотой (от 6000 до 0,25 штрих/мм, что позволяет перекрывать область спектра от ультрафиолетовой его части до инфракрасной). Например, ступенчатый профиль решетки позволяет концентрировать основную часть падающей энергии в направлении одного определенного ненулевого порядка.
Дифракция в кристаллах
Кристаллы представляют собой трехмерные периодические структуры, когда определенная конфигурация атомов повторяется в трех различных направлениях. Расстояние между атомами в кристаллах имеет величину см. Это гораздо меньше длин волн оптического диапазона см, следовательно, наблюдать дифракцию в видимом свете невозможно. Немецкий ученый Лауэ предложил использовать для наблюдения дифракции в кристаллах рентгеновское излучение с длинами волн см.
Простой метод расчета дифракции рентгеновского излучения на кристаллической решетке предложили английские физики Брэгги (отец и сын) и советский физик Вульф. Представим кристаллы в виде совокупности параллельных кристаллографических плоскостей, отстоящих друг от друга на расстоянии d. Пучок параллельных монохроматических рентгеновских лучей падает под углом скольжения (угол между направлением падающих лучей и кристаллографической плоскостью) и возбуждает атомы кристаллической решетки, которые становятся источниками когерентных вторичных волн 1′ и 2′, интерферирующих между собой, подобно вторичным волнам от щелей дифракционной решетки.
Максимумы интенсивности наблюдаются в тех направлениях, в которых все отраженные атомными плоскостями волны будут находиться в одинаковой фазе. Эти направления удовлетворяют формуле Брэггов — Вульфа (формула Брэгга)
т.е. при разности хода между двумя лучами, отраженными от соседних кристаллографических плоскостей, кратной целому числу длин волн, наблюдается дифракционный максимум.
С помощью формулы Брэггов-Вульфа решают две важные физические задачи:
1) определяют межплоскостное расстояние и исследуют структуру кристалла. Эта формула лежит в основе рентгеноструктурного анализа.
2) зная , определяют длину волны. Этими задачами занимаются в рентгеновской спектроскопии.
В квантовой механике показано, что волновыми свойствами обладают элементарные частицы (электроны, протоны, нейтроны и пр.). Для них также можно записать формулу, аналогичную формуле Брэггов-Вульфа, и проводить соответствующие структурные исследования. Подавляющее большинство результатов о внутренней структуре материальных тел получено с использованием дифракционных методов.